UHAST，即Unbiased Highly Accelerated Stress Test，是一种在高温高湿环境下对电子元件进行可靠性评估的测试方法，其显著特点是在测试过程中不对被测器件施加任何偏置电压。这一特性使得UHAST能够更真实地反映器件在纯粹环境应力作用下的表现，特别是那些可能因偏压存在而被掩盖的失效机理，如电偶腐蚀等。
在测试过程中，UHAST强调对芯片壳温和功耗数据的监控，以确保结温不会过高，防止因过热导致的非环境应力失效。此外，测试起始时间和结束时间的精确控制也是UHAST测试准确性的关键。