芯片高低温变温测试台是一款针对芯片、光器件变温性能测试的多功能测试平台，XYZ轴可任意调节，XY轴调节范围0-250mm，轴调节范围0-200mm，控温精度±0.01℃，控温范围-50℃-120℃（非标可定制），触摸屏控制，友好的人机界面，RS232、RS484远程控制接口，无噪声、无振动，升降速率可调。组成部分：半导体冷热台、高精度半导体温度控制器、温控软件、水循环系统（选配）。样品台尺寸 可根据实际要求定制。常规尺寸：从 40*40mm, 50*50mm, 55*55mm到300mm*300mm。形状：圆形，方形等可根据实际需要定制。