冷热冲击试验箱主要分为大部分:低温部分,高温部分,测试部分,所以也称为三箱式冷热冲击试验箱,一般用到电子电器,汽车零部件,LED二极管,灯珠,半导体,薄膜,塑胶,稀土,芯片,电脑,线路板,电路板,IC封装等
温度冲击时间:小于1min以内
温度转换时间:小于5s以内
内箱尺寸:40 x 35 x 35 cm,
内箱尺寸可以做大做小都可以的
半导体测试一般不能小于5000个循环,二极管测试不能小于1000个循环, 塑胶类的测试不小于200个循环
![](http://tiebapic.baidu.com/forum/w%3D580/sign=96a0497dc2d6277fe9123230183a1f63/c5795af40ad162d9e372bfda54dfa9ec8813cdce.jpg?tbpicau=2024-09-14-05_0f3bd2798ca133eb0ffb5675745fafa1)
![](http://tiebapic.baidu.com/forum/w%3D580/sign=23d5132a9400baa1ba2c47b37712b9b1/40e585c27d1ed21bb21cf023e86eddc453da3f95.jpg?tbpicau=2024-09-14-05_96c87556fa83b3990c90d89284732b56)
温度冲击时间:小于1min以内
温度转换时间:小于5s以内
内箱尺寸:40 x 35 x 35 cm,
内箱尺寸可以做大做小都可以的
半导体测试一般不能小于5000个循环,二极管测试不能小于1000个循环, 塑胶类的测试不小于200个循环
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