1、系统概述
ENL3010系列FRD浪涌电流测试系统的测试方法符合JB/T7626-2013中的相关标准。浪涌电流试验仪是二极管等相关半导体器件测试的重要检测设备，该设备具有如下特点：
1、该试验台是一套大电流、高电压的测试设备，电流最大可扩展至20kA,带阻断功能的设备电压可扩展至10kV,对设备的电气性能要求高。
2、该试验台的测试控制完全采用自动控制，测试可按测试员设定的程序进行自动测试。
3、该试验台采用计算机记录测试结果，并可将测试结果转化为EXCEL文件进行处理。
4、该套测试设备主要由以下几个单元组成：
Ø 浪涌测试单元
Ø 阻断电压单元(扩展单元)
Ø 阻断漏电单元（扩展单元）
Ø 计算机控制系统
2、技术条件
2.1、环境要求
Ø 环境温度：15—40℃
Ø 相对湿度：存放湿度不大于80%
Ø 大气压力：86Kpa—106Kpa
Ø 海拔高度：1000米以下
Ø 电网电压：AC220V±10%无严重谐波
Ø 电网频率：50Hz±1Hz
Ø 电源功率：2KW
Ø 供电电网功率因数：＞0.9
2.2、主要技术指标
1、浪涌电流（IFSM）测试范围：100～5000A；
100A～500A，分辨率1A,误差±3%
500A～2000A,分辨率1A,误差±3%
2000A～5000A,分辨率1A,误差±3%
2、浪涌电流（ITSM/IFSM）波形：近似正弦半波；
3、浪涌电流底宽：10ms±0.1ms；
4、测试频率：单次/重复；
5、浪涌电流重复时间（可设定）2S～50S
6、反向电压VRRM：50V～2000V，分辨率1V，误差±3%
7、反向电压频率：50Hz
8、阻断漏电IRRM：1uA～50mA，分辨率1uA，误差±3%
9、采用计算机控制、采样及显示；
10、输出方式：TO-220，TO-247，TO-263开尔文夹具，模块开尔文测试线。
如果感兴趣此类半导体器件电参数测试设备的话，请联系易恩电气李想 152 4920 2572 （微信同号）。