DFN8-1.27（5*6)下压探针老化座
产品简介
A、产品用途:老化座、测试座，对DFN8的IC芯片进行老化测试
B、适用封装:WSON\QFN\DFN8 引脚间距1.27mm
C、测试座:WSON\QFN\DFN8(5*6)-1.27
D、特点:探针结构，接触稳定，性能更稳定
E、座子外壳采用特殊的工程塑胶，强度硬、寿命长
F、我司可提供规格书（布板图）资料，PDF档\CAD
G、IC进行有锡球、无锡球不同测试，，交期快，提高使用效率
规格尺寸
A、型号:WSON\QFN\DFN8(5*6)-1.27
B、引脚间距(mm):1.27
C、脚位:8
D、芯片尺寸:5*6