-
-
0
-
0
-
0
-
0
-
0
-
0ECM-HAST绝缘电阻劣化(离子迁移CAF) 评估系统是一种信赖性试验设备,原理为印刷电路板上给予一固定的直流电压,经过长时间的测试(1~1000小时)并观察线路是否有瞬间短路的现象发生,并记录电阻值变化状况,故又叫做CAF试验,绝缘阻力电阻试验,我们将其统称为绝缘劣化试验,可进行BHAST试验。在高温高湿条件下,对电子零部件以及印刷电路板的绝缘部分测试电阻值,也能够进行高效率的绝缘可靠性评估。 特点 1. 高机能:该系统采用高端驱动
-
0
-
0
-
0HAST老化试验箱的用途非常广,主要用于模拟产品在高温高湿及压力(可选)条件下的使用环境,以加速产品的老化过程,从而评估其耐久性和可靠性。 HAST老化试验箱应用于电子、光电、化工、汽车、航空航天等多个领域,具体材料和应用包括: 多层电路板(PCB):测试其在高温高湿环境下的耐久性和稳定性。 IC封装:评估IC封装材料在高温高湿及压力条件下的密封性能和可靠性。 液晶屏(LCD):测试液晶屏在高温高湿环境下的显示效果和耐久性。 L
-
0ThermoTST热流罩应用于照明级大功率 LED 器件, LED 封装的可靠性测试.大功率 LED 器件测试方法: LED 通电测试, 单次测试一块板子, 循环 3-5 分钟即可完成测试. ThermoTST热流罩满足客户要求的测试温度 -55℃~150℃ , 变温速率 -55至 +125°C 约10 s, 温度精度±0.1℃, 根据我们测试治具 T-Cap 的特殊尺寸, 对产品做了全方位的设计,目前测试非常成功.
-
0接触式冷热冲击试验机ATC860 通过测试头与DUT之间直接接触,将DUT的温度(壳温或者结温)调整到目标温度点进行相应的性能测试。同时适用于已焊接的芯片和使用socket的芯片,可以真正做到只控制待测芯片温度而不影响外围电路,排除外围电路引起的不确定性。 接触式冷热冲击试验机ATC860 特点: 有效温度范围,-70℃至+200℃ 温度稳定性±0.5℃ 触摸屏操作,人机交互界面 支持DUT温度控制 桌面设计,低噪音、低震动、低环境散热 温度波动小 低温环境测试
-
0高低温冲击热流仪的相关数据 温度范围:高低温冲击热流仪的有效温度范围可达-80℃至+225℃(不同型号可能有所不同),能够满足各种高低温冲击测试的需求。 气流量:该设备的气流量可高达18SCFM,能够确保在测试过程中提供足够的冷热空气流量,从而实现对芯片的快速温度冲击。 测试时间:由于温度变化速率快,从-55℃到+125℃的转换约10秒,因此测试时间大大缩短。这意味着在相同的时间内,可以进行更多的测试循环,从而提高测试效率。 测试
-
0
-
0
-
0
-
0
-
0Mechanical Devices开发生产并向主要半导体器件制造商提供创新的成本效益热控制单元,以测试IC器件。其中,Max TC广泛应用于芯片可靠性测试领域,包括但不限于材料特性分析、温度循环测试、快速温变测试、温度冲击测试以及失效分析等可靠性试验。它特别适用于对芯片进行高温、低温或高低温环境下的性能测试,以确保芯片在各种恶劣条件下的稳定性和可靠性。 提供全国范围内的Max TC接触式高低温冲击机设备故障的快速支持,并可在我们的工厂进行
-
0
-
0
-
0
-
2有没有熟悉chroma机台的大佬协助开发一下测试程序,价格和方式肯定能满意,跪求感兴趣的大佬联系
-
0
-
0IGBT模块是新能源汽车三电系统里相当值钱的重要部件,电机控制器核心元件。搭载接触式高低温冲击机对其进行高低温试验,模拟外界温度变化对IGBT的影响,验证器件或模块的整体结构和材料的可靠性。 接触式高低温冲击机拥有-70~200℃的测温范围,通过定制的冷盘直接与被测件接触,试验精度更高,满足IGBT温度冲击试验的要求,同时也能做特性分析,高低温温变测试,失效分析等可靠性试验。
-
0
-
0
-
0
-
0
-
0HAST是Highly Accelerated Stress Test的简称,中文名为高加速应力试验(高加速温湿度应力测试)。是一种用于评估产品在高温、高湿以及高压条件下的可靠性和寿命的测试方法。 HAST可以快速激发 PCB 和芯片的特定失效,例如分层、开裂、短路、腐蚀及爆米花效应。 湿气所引起的故障原因:水汽渗入、聚合物材料解聚、聚合物结合能力下降、腐蚀、空洞、线焊点脱开、引线间漏电、芯片与芯片粘片层脱开、焊盘腐蚀、金属化或引线间短路。 水汽进入IC封装的
-
0高低温冲击搭配液晶显示屏测量系统试验 热流仪搭配液晶显示屏测量高低温系统试验ThermoTST高低温冲击热流仪, 兼容各品牌光学检测设备, 提供显示行业 LCD, LCM, TV, monitor, OLED 器件, OLED 模组, Micro LED, Mini LED, 车载显示, LED Light Bar, 背光模组等器件在高低温环境下的光学性能测试。 高低温冲击搭配液晶显示屏测量系统试验 高低温环境下 OLED 器件光学性能测试系统 热流仪TS580B与德国Instrument Systems DMS 液晶显示屏测量系统(原AUTRONIC-MELCHERS)联用进行 LED 高低
-
0
-
0
-
0
-
0
-
0
-
0
-
0日本平山HAST高加速寿命试验箱维修 维修主要维修类别: 1 控制系统(温度不受控、湿度不受控,控制器温湿度较正,控制系统不能正常工作、传感器失效、电子门锁更换修理等) 2 制冷系统、管道破裂焊接、维修膨胀阀、更换过滤器、加注压缩机润滑油、清洁冷凝器、加装针阀等 3 加热系统(维修加热器、更换可控硅、固态继电器、接触器、时间继电器、中间继电器、加热高温线更换,加加热器等) 4 机械系统(维修循环马达,风机叶片、改善循环风
-
0电子测试领域充满了自己的技术术语,这对于外行来说可能会令人不知所措。除了“老化测试”这个术语之外,您可能听说过其他可靠性测试服务,例如高加速提升测试和高加速应力筛选。但这些术语是什么意思呢?它们与老化测试有何不同? 高加速寿命测试 (HALT),与老化测试有许多相似之处。事实上,老化测试可以被视为 HALT 的一种。这是因为 HALT 不是一种特定的测试,而是一种测试方法。 与老化测试类似,HALT 通常在产品开发的早期阶段进行。
-
0测试过程中使用的老化测试类型将取决于不同的要求。如果不确定哪种测试方法最适合,可以参照以下三种不同类型的可用测试及其优缺点,来选择适用的方法。 1.静态测试 在静态老化测试期间,将温度和电压施加到每个部件,而不操作或锻炼每个部件。这个过程相对简单。只需将探头安装到环境室中,然后将环境室升至所需温度即可。随后,将所需电压施加到半导体元件。由于静态老化成本低且简单,许多制造商选择使用静态老化。 然而,这种测
-
0
-
0
-
0
-
0
-
0
-
0
-
0
-
0
-
0
-
0
-
0
-
0