接触式三温测试台通过快速升降温或施加热应力，测试芯片在恶劣温度条件下的响应和恢复能力，以评估其热稳定性和可靠性。利用接触式高低温设备模拟特定的温度条件，诱导芯片发生失效，并通过分析失效模式和机制，找出导致失效的根本原因。这有助于改进芯片设计和制造工艺，提高产品的整体可靠性。接触式高低温设备有助于研究芯片内部材料在不同温度下的物理、化学和机械性能变化，如热膨胀系数、热导率、电阻率等。这有助于选择合适

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ThermoTST 系列高低温冲击气流仪，具有更广泛的温度范围-80°C到+225℃℃，提供了很好温度转换测试能力。温度转换从-55℃到+125℃℃之间转换约10秒;经长期的多工况验证，满足各类生产环境和工程环境的要求。ThermoTST 系列高低温冲击气流仪是纯机械制冷，无需液氮或任何其它消耗性制冷剂。

接触式高低温设备是针对芯片可靠性测试而研发的专用设备，通过测试头与待测器件直接贴合的方式实现能量传递，与传统气流式高低温设备（热流仪、温箱等）相比具有升降温效率高，操作简单方便，体积小巧，噪音低等特点。 接触式高低温设备的用途广泛，在不同领域下的用途也不同，具体如下： 电子元器件测试： 接触式高低温冲击机能够精确控制待测器件（DUT）的温度，适用于IC特性测试、失效分析以及ATE、SLT等测试场景。 该设备特别适用于

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英伟达NVIDIA InfiniBand解决方案：打造超高速数据传输新时代 在当今这个数据为王的时代，高性能计算和数据中心对数据传输速度的要求越来越高。为了满足这一需求，英伟达NVIDIA推出了全新的InfiniBand解决方案，旨在为用户提供前所未有的超高速数据传输体验。 这款解决方案的核心是400 Gb/s Quantum-2 InfiniBand或Spectrum-4 Ethernet双口千兆以太网交换机，以及Twin-port 2 x 400 G OSFP Switches。这些设备不仅具备卓越的性能，还采用了最先进的技术，确保数据传输的稳

接触式高低温冲击机ATC840采用的设计和技术，具有广泛的温度范围：-55℃至+200℃，通过与热头尖端直接接触，精确地持续刺激DUT达到所需的温度。 接触式高低温冲击机ATC840热头设计具有高效率和灵活性，允许不同热头尖端，以适应不同的 IC 尺寸和接口变化。 通过高清触摸屏或远程通信接口可以设置温度，查看历史数据记录等，同时可以在触摸屏上查看温度曲线。系统可以在IC上提供快速和精确的温度转换，即使是在设备功率变化的情况下，也可以使

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接触式高低温设备ATC系列通过接触头与DUT之间直接接触，将DUT的温度(壳温或者结温)调整到目标温度点进行相应的性能测试。同时适用于已焊接的芯片和使用socket的芯片，可以真正做到只控制待测芯片温度而不影响外围电路，排除外围电路引起的不确定性。 接触式高低温设备主要特点： （1）广泛的温度范围，涵盖大多数半导体，电子工业，汽车和商业的测试要求。 （2）极端温度之间的快速转换循环。 （3）内部热电偶空气温度控制和监测。 （4）外

400G/800G OSFP硅光模块均基于其自研Hyper Silicon™ 硅光子平台制造，支持MPO接口，采用4/8路106.25Gbps 单模并行技术，可实现500m/2km/10km距离传输。 模块支持“break-out”应用，设计应用于InfiniBand NDR网络、数据中心及400G/800G以太网链路，助力AI集群与大型数据中心全新升级。 当前芯速联OSFP系列硅光模块已在其安徽超级制造工厂内实现大批量全自动化制造与出货。 产能保证： 认证： 1心相系情未了， 8方风雨共舟行。 6月荷香满池塘， 7色彩虹挂天际。 2人携手

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单模光模块和多模光模块是光纤通信系统中的两种重要类型，它们之间的主要区别体现在以下几个方面： 一、定义与传输模式 单模光模块：采用单一模式（基模）进行数据传输的光模块。在单模光模块中，只有一种模式的光可以传输，因此信号传输更为稳定。 多模光模块：采用多种模式进行数据传输的光模块。它能够支持多种光模式，如分布反射式、全反射式、折射式和透射式等，形成多条光线进行传输。 二、波长与光源 波长：多模光模块的工作

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芯片的HAST测试是一种集成电路（IC）行业中常用的可靠性测试方法。它通过将芯片置于高温高湿环境下，模拟芯片在实际应用中可能面临的恶劣条件，以评估芯片的稳定性和可靠性。HAST测试的主要原理是通过高温和高湿度加速芯片老化过程，从而更早地暴露出潜在的问题。 针对HAST测试，测试座在配合测试时需要注意以下几个方面： 耐高温高湿性能：HAST测试中，温度通常在100°C至150°C之间，湿度高达85%至95%。因此，测试座需要具备良好的耐高温高湿

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V6版本好还是V8版本好？什么区别，印象中还有V2版本的？懂的大神说明下！谢谢了

HAST试验是“highly accelerated temperature and humidity stress testing”的缩写，即:高加速稳态湿热&应力试验(高加速温度、湿度、应力试验)，在GB/T 2423.40-1997内对应名称描述为“未饱和高压蒸汽恒定湿热试验” HAST试验是针对非气密性封装器件，通过温度、湿度、压力、偏压来加速湿气进入到器件内部，从而加速器件老化，考察器件抗湿气能力。 HAST试验的失效机理与传统的恒温恒湿试验(“85℃/85%RH”或者“THB”)的失效机理一致。常用的试验条件如130℃，85%RH

光模块测报错，写码后怎么看写进去没有，有偿

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HFBR-1521Z/HFBR-2521Z和FT-1521Z/FT-2521Z兼容性很好吗? 为什么华为、阳光电源、上能电气、古瑞瓦特、固德威、特变电工、科华技术、科士达、锦浪、首航新能源等等这些公司都要选择用FT-1521Z/FT-2521Z去替换HFBR-1521Z/HFBR-2521Z？ 有大神知道情况吗？求解答一下

科技发展太快了： 光模块厂家已经着眼1.6T光模块； 通信运营商开始统筹400G光网络； 接下来设备、线路等增加量相当大。

十余年行业加工，独立模房，压铸+冲压+注塑，自有电镀产线，从图纸输入到包装出货一条龙

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老外需要这个品牌模块。这是什么牌子？

请问哪里有兼容HFBR-1521Z/HFBR-2521Z 的国产替代？我了解到阳光电源、上能电气、古瑞瓦特、固德威、特变电工、首航新能源等等这些公司都在选择用FT-1521Z/FT-2521Z去替换HFBR-1521Z/HFBR-2521Z，这个有了解的吗？

由于安华高产能原因及其他不可言表到的原因，导致HFBR-1414和HFBR-2412的交付出现了较大的问题。在此大环境下寻找替代AVAGO的HFBR-1414和HFBR-1412的需求比较强烈。后来市面上出现了一些所谓可以替代HFBR-1414的产品，但是这些产品往往有以下这些问题： 1、需要客户变更电路设计； 2、无法正常使用要么就是无法和安华高的产品无法互联互通； 3、各种指标和安华高的有出入； 4、模块抗干扰能力差，有些甚至用手一摸都会带来干扰； 这些伪原位替代是否让

芯片高低温变温测试台是一款针对芯片、光器件变温性能测试的多功能测试平台，XYZ轴可任意调节，XY轴调节范围0-250mm，轴调节范围0-200mm，控温精度±0.01℃，控温范围-50℃-120℃（非标可定制），触摸屏控制，友好的人机界面，RS232、RS484远程控制接口，无噪声、无振动，升降速率可调。组成部分：半导体冷热台、高精度半导体温度控制器、温控软件、水循环系统（选配）。样品台尺寸 可根据实际要求定制。常规尺寸：从 40*40mm, 50*50mm, 55*55mm到300mm*300mm

废品回收站收到的，不知道值多少钱，这个型号网上也搜不到

百兆，千兆光模块。。。